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  • DR-H210HAST未饱和高压蒸汽恒定湿热试验箱
    DR-H210HAST未饱和高压蒸汽恒定湿热试验箱

    HAST未饱和高压蒸汽恒定湿热试验箱是根据GBT2423.40-2013电工电子产品环境试验 第40部分:试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热设计研发的一款设备,通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面,来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H210浏览量:300
  • DR-H210HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱
    DR-H210HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱

    HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验(HAST)设计研发的一款设备,通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面,来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H210浏览量:349
  • 强加速稳态湿热试验箱(HAST)
    强加速稳态湿热试验箱(HAST)

    强加速稳态湿热试验箱(HAST)是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验(HAST)设计研发的一款设备,通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面,来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

    更新日期:2022-11-29型号:浏览量:6152
  • DR-H309漳州内存卡HAST老化试验箱
    DR-H309漳州内存卡HAST老化试验箱

    DR-H309漳州内存卡HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:302
  • DR-H309赣州键盘HAST老化试验箱
    DR-H309赣州键盘HAST老化试验箱

    赣州键盘HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:262
  • DR-H309湖州光纤光缆HAST老化试验箱
    DR-H309湖州光纤光缆HAST老化试验箱

    湖州光纤光缆HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:317
  • DR-H309盐城光驱HAST老化试验箱
    DR-H309盐城光驱HAST老化试验箱

    盐城光驱HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:283
  • DR-H309镇江光盘HAST老化试验箱
    DR-H309镇江光盘HAST老化试验箱

    镇江光盘HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:293
  • DR-H309唐山固态硬盘HAST老化试验箱
    DR-H309唐山固态硬盘HAST老化试验箱

    DR-H309唐山固态硬盘HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H309浏览量:306
  • 电子器件hast试验箱hast测试箱hast老化箱
    电子器件hast试验箱hast测试箱hast老化箱

    电子器件hast试验箱hast测试箱hast老化箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:浏览量:437
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