HAST未饱和高压蒸汽恒定湿热试验箱是根据GBT2423.40-2013电工电子产品环境试验 第40部分：试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验（HAST）设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

强加速稳态湿热试验箱（HAST）是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验（HAST）设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

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