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  • DR-H308封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱
    DR-H308封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱

    封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产,适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料参照使用。将试样放入高压蒸煮老化试验箱,试验条件如下∶试验温度121℃,相对湿度100%,光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h;封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h;光伏背板试验时间宜为24h、48h。关闭箱门,运行

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:301
  • DR-H308光伏组件用玻璃高压蒸煮老化试验箱PCT
    DR-H308光伏组件用玻璃高压蒸煮老化试验箱PCT

    光伏组件用玻璃高压蒸煮老化试验箱PCT依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产,适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料参照使用。试验条件如下∶试验温度121℃,相对湿度100%,光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h;封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h;光伏背板试验时间宜为24h、48h。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:279
  • DR-H308PCT高压蒸煮老化试验箱
    DR-H308PCT高压蒸煮老化试验箱

    DR-H308PCT高压蒸煮老化试验箱依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产,适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料参照使用。将试样放入高压蒸煮老化试验箱,试验条件如下∶试验温度121℃,相对湿度100%,光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h;封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h;光伏背板试验时间宜为24h、48h。关闭箱门,运行

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:285
  • DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱
    DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱

    DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:296
  • DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱
    DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱

    DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:274
  • DR-H308桂林网络数据设备PCT老化试验箱
    DR-H308桂林网络数据设备PCT老化试验箱

    DR-H308桂林网络数据设备PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:277
  • DR-H308江门网卡PCT老化试验箱
    DR-H308江门网卡PCT老化试验箱

    DR-H308江门网卡PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:276
  • DR-H308揭阳内存条PCT老化试验箱
    DR-H308揭阳内存条PCT老化试验箱

    揭阳内存条PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:DR-H308浏览量:254
  • pct设备PCT测试仪pct老化测试箱
    pct设备PCT测试仪pct老化测试箱

    pct设备PCT测试仪pct老化测试箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:浏览量:3115
  • 专业PCT高速老化高压加速寿命试验箱试制厂家
    专业PCT高速老化高压加速寿命试验箱试制厂家

    专业PCT高速老化高压加速寿命试验箱试制厂家。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

    更新日期:2022-11-29型号:浏览量:838
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