IC-PCT加速老化试验箱

IC-PCT加速老化试验箱

PCT，即Pressure Cooker Test，也被称为加速老化试验，是一种模拟高温高湿的环境条件的试验方法。通过将产品放置在高温高湿的环境中，加速产生各种老化现象，例如材料老化、电路老化等。通过持续测试和观察，可以了解产品在长时间使用和暴露于恶劣环境中的情况，进而对其可靠性进行评估。

试验箱采用高品质的材料和*进的技术，以确保试验的准确性和稳定性。箱体采用厚重的不锈钢材料制造，具有优异的耐腐蚀性和强度，能够承受高温和高湿的试验环境。同时，装备有*进的温湿度控制系统，可以精确控制试验过程中的温度和湿度变化，保证试验的稳定性和可靠性。

广泛应用于电子、电器、汽车、机械等领域，用于对各种产品进行可靠性和耐久性的评估。例如，在电子行业中，可以用于测试电子元件、半导体芯片、电路板等在高温高湿环境下的工作状态和可靠性；在汽车行业中，可以用于测试汽车零部件的耐久性和性能表现。通过试验箱的使用，可以加快产品的研发和改进流程，提高产品的质量和可靠性。

IC-PCT加速老化试验箱技术参数：

规格

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质： 高级烤漆。

5.温度范围 : 105℃～132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围 : 100%RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围（表上压力） : 0.2Kg/cm2～2.0 Kg/cm2或（2.2 Kg/cm2）控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ～ 999 小时可调.

9.温度分布: ≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ～ 135℃约40分钟内. （控制点温度）.

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ～ 2.2Kg/cm2 约45分钟内（控制点压力）.

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.