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芯片HAST高温蒸煮试验箱

简要描述:芯片HAST高温蒸煮试验箱又称为超加速寿命试验机,用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-11-22
  • 访  问  量:650

详细介绍

芯片HAST高温蒸煮试验箱产品简介:

HAST/HALT试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

高压加速老化试验箱采用最新优化设计,美观大方、做工精细,对应 IEC60068-2-66 条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器;具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。

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芯片HAST高温蒸煮试验箱试验标准:

GB/T2423.40-2013电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

HAST高压加速老化试验箱

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。

◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

◆汽车级硅胶整体密封条,气密性好,耐用。

◆全自动补水功能,前置式水位确认。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式

















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