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集成电路 HAST加速老化试验箱

简要描述:集成电路 HAST加速老化试验箱在电子元器件行业中具有重要的应用价值。随着电子产品的日益普及和更新换代,人们对产品的可靠性和耐久性的要求也越来越高。因此,对电子元器件进行可靠性测试变得尤为重要。HAST老化试验箱可以模拟产品在高温高湿环境下的长期使用,帮助企业了解产品的性能和可靠性,并为产品的改进和优化提供依据。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-15
  • 访  问  量:496

详细介绍

集成电路 HAST加速老化试验箱产品简介:

HAST老化试验箱在电子元器件行业中具有重要的应用价值。随着电子产品的日益普及和更新换代,人们对产品的可靠性和耐久性的要求也越来越高。因此,对电子元器件进行可靠性测试变得尤为重要。HAST老化试验箱可以模拟产品在高温高湿环境下的长期使用,帮助企业了解产品的性能和可靠性,并为产品的改进和优化提供依据。HAST老化试验箱不仅在电子元器件行业中应用广泛,在工业产品领域也得到了广泛应用。例如,汽车行业对汽车电子控制器的可靠性要求很高,经常会使用HAST老化试验箱进行可靠性测试。此外,光电行业、通信行业等也经常使用HAST老化试验箱进行产品可靠性评估。由于HAST老化试验箱能够模拟真实环境中的高温高湿条件,并通过加速老化过程进行可靠性测试,因此在产品研发和制造中有着重要的作用.

高压加速老化试验箱采用最新优化设计,美观大方、做工精细,对应 IEC60068-2-66 条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器;具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。

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集成电路 HAST加速老化试验箱试验标准:

GB/T2423.40-2013电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

HAST高压加速老化试验箱

◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

◆采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。

◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

◆汽车级硅胶整体密封条,气密性好,耐用。

◆全自动补水功能,前置式水位确认。

◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式

















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