集成电路 HAST加速老化试验箱

集成电路 HAST加速老化试验箱产品简介：

HAST老化试验箱在电子元器件行业中具有重要的应用价值。随着电子产品的日益普及和更新换代，人们对产品的可靠性和耐久性的要求也越来越高。因此，对电子元器件进行可靠性测试变得尤为重要。HAST老化试验箱可以模拟产品在高温高湿环境下的长期使用，帮助企业了解产品的性能和可靠性，并为产品的改进和优化提供依据。HAST老化试验箱不仅在电子元器件行业中应用广泛，在工业产品领域也得到了广泛应用。例如，汽车行业对汽车电子控制器的可靠性要求很高，经常会使用HAST老化试验箱进行可靠性测试。此外，光电行业、通信行业等也经常使用HAST老化试验箱进行产品可靠性评估。由于HAST老化试验箱能够模拟真实环境中的高温高湿条件，并通过加速老化过程进行可靠性测试，因此在产品研发和制造中有着重要的作用.

高压加速老化试验箱采用最新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

集成电路 HAST加速老化试验箱试验标准：

GB/T2423.40-2013电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）