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HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱

简要描述:HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验(HAST)设计研发的一款设备,通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面,来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

  • 产品型号:DR-H210
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-13
  • 访  问  量:1036

详细介绍

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱产品简介

    该设备根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验(HAST)设计研发的一款设备,通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面,来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱说明

强加速稳态湿热试验通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。此试验应力产生的失效机理通常与“85/85"稳态温湿度偏置寿命试验(见IEC60749-5)相同。试验方法可以从85℃/85%RH稳态寿命试验或本试验方法中选择。在执行两种试验方法时,85℃/85%RH稳态寿命试验的结果优先于强加速稳态湿热试验(HAST)。

本试验方法应被视为破坏性试验。

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hast高压加速老化试验箱特点:

1. 控制器运算采用模糊算法,技术控制,精度高,使之达到最佳效果;7″TFT真彩LCD触摸屏,比其它屏更大。

2. 控制器人机界面互动友好形式设计,操作方便,运行更可靠。

3.具有USB接口直接拷贝记录功能,包括历史曲线,历史数据等,直接拷贝到计算机查看分析及存盘。

4. 可选RS-232或RS-485通讯接口,可双向操控机器及计算机硬盘储存数据。

5. 可通过局域网或机器直接与电脑连接监控本机器运行情况,及远程操控机器。

6. 超大的程序容量:50组程序功能,每组程序可编辑50步。

7. 无结露设计、定制两套专用产品架可满足有边框和无边框光伏组件产品放置、内箱圆弧式结构可预防水珠直接滴落在产品上。

8. 饱和试验(STD)和不饱和试验(HUM)两种试验模式。

9.采用真空功能,机器运转开始时抽出杂质空气,从而使箱内环境达到纯净状态。

10. 全自动补水模式,耗水少,持续试验时间长

11. 干燥功能:试验完成时,开启干燥功能,杜绝水汽付在产品表面,还原产品试验后最真实状态。

12.符合IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118; GB/T 2423.40-1997等规范。

13. 水路配电盘分离技术,杜绝水路故障对电路系统造成影响。

14.可以根据产品状态,定制专用产品架(免费)

15. 采用国际品牌部件,运行噪声低,性能*。

16.以60秒钟的采样计算,可保证250天的实时曲线采样和历史数据的存贮;可以由3秒钟到一小时,任意设定取样速率。

17. hast加速老化试验箱多段安全保护装置: 试验时全程检测超温超压保护,第一阶段仪表内部超高温保护,第二阶段仪表内部加湿器缺水防干烧保护,高压力保护,水箱缺水报警断电,第二阶段加湿管极限温度保护,第二阶段超高压保护,第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护自动泄压;漏电短路箱门关闭异常保护,故障报警故障原因及排除方法显示,报警灯及蜂鸣器报警提示



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