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高压加速寿命试验箱HAST

简要描述:高压加速寿命试验箱HAST是一种用于加速湿热条件下芯片、元器件等电子产品的老化失效试验设备。以下是HAST设计要点:内容积:根据测试需求,选择合适的内容积。通常情况下,HAST试验箱的内容积为70-100L。材料选用:试验箱内部需要使用不锈钢材料或者抗腐蚀性能较好的材料,以防止试验产生的湿气侵蚀内部结构。控制系统:HAST试验箱需要安装温度、湿度、压力三个传感器,并通过PID控制算法实现温度和湿度

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-15
  • 访  问  量:323

详细介绍


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高压加速寿命试验箱HAST特点优势:

1.采用优化设计,美观大方,做工精细。

2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断。

4.与试样数量相吻合的试样信号施加端子。

5.采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

6.采用高效真空泵,使箱内达到较高的纯净饱和蒸汽状态。

7.一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。

8.可根据客户不同需求定制设备(如:HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需求)。

9.可根据客户产品模样及大小尺寸,定制产品架。

10.对应IEC60068-2-66条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。

11.具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。


高压加速寿命试验箱HAST是一种用于加速湿热条件下芯片、元器件等电子产品的老化失效试验设备。以下是HAST设计要点:

内容积:根据测试需求,选择合适的内容积。通常情况下,HAST试验箱的内容积为70-100L。

材料选用:试验箱内部需要使用不锈钢材料或者抗腐蚀性能较好的材料,以防止试验产生的湿气侵蚀内部结构。

控制系统:HAST试验箱需要安装温度、湿度、压力三个传感器,并通过PID控制算法实现温度和湿度的精确控制。

加热方式:试验箱的加热方式主要有外加热和内加热两种方式,其中内加热方式更为常用。内加热方式可以通过在试验箱内部设置电热管或者热风循环来实现。

压力维持:试验箱需要安装自动增压装置,保证试验过程中的压力维持在设定范围内。

湿气供给:试验箱需要安装湿度调节装置,通过向试验箱内部注入水汽来实现高湿环境。

安全保护:试验箱需要设置过压、过温、过流等安全保护装置,以保证试验过程中的安全性和稳定性。

HAST设计的主要要点,当然在具体的设计过程中还需要考虑一些细节问题,如加热功率、设备布局

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