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IC-PCT饱和加速寿命老化试验箱

简要描述:IC-PCT饱和加速寿命老化试验箱是一种专门用于模拟环境条件,对产品进行老化试验的设备。在现代工业生产中,各种产品的质量和性能是十分重要的,而产品的老化试验则是评估其可靠性和耐用性的重要手段。通过模拟高温高湿的环境,对产品进行长时间稳定的老化试验,以验证其耐用性和性能表现。

  • 产品型号:DR-H308
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-15
  • 访  问  量:367

详细介绍

IC-PCT饱和加速寿命老化试验箱


PCT,即Pressure Cooker Test,也被称为加速老化试验,是一种模拟高温高湿的环境条件的试验方法。通过将产品放置在高温高湿的环境中,加速产生各种老化现象,例如材料老化、电路老化等。通过持续测试和观察,可以了解产品在长时间使用和暴露于恶劣环境中的情况,进而对其可靠性进行评估。

试验箱采用高品质的材料和*进的技术,以确保试验的准确性和稳定性。箱体采用厚重的不锈钢材料制造,具有优异的耐腐蚀性和强度,能够承受高温和高湿的试验环境。同时,装备有*进的温湿度控制系统,可以精确控制试验过程中的温度和湿度变化,保证试验的稳定性和可靠性。

广泛应用于电子、电器、汽车、机械等领域,用于对各种产品进行可靠性和耐久性的评估。例如,在电子行业中,可以用于测试电子元件、半导体芯片、电路板等在高温高湿环境下的工作状态和可靠性;在汽车行业中,可以用于测试汽车零部件的耐久性和性能表现。通过试验箱的使用,可以加快产品的研发和改进流程,提高产品的质量和可靠性。


IC-PCT饱和加速寿命老化试验箱技术参数:

规格

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质: 高级烤漆。

5.温度范围 : 105℃~132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围 : 100%RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围(表上压力) : 0.2Kg/cm2~2.0 Kg/cm2或(2.2 Kg/cm2)控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.

9.温度分布: ≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ~ 135℃约40分钟内. (控制点温度).

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.2Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.











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