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封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱

简要描述:封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产,适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料参照使用。将试样放入高压蒸煮老化试验箱,试验条件如下∶试验温度121℃,相对湿度100%,光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h;封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h;光伏背板试验时间宜为24h、48h。关闭箱门,运行

  • 产品型号:DR-H308
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-20
  • 访  问  量:591

详细介绍

DR-H308封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱产品简介:

该老化箱依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产,适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料的加速老化测试参照使用。

封装胶膜PCT高压蒸煮老化试验箱测试方法

将试样放入高压蒸煮老化试验箱,试验条件如下∶试验温度121℃,相对湿度100%,光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h;封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h;光伏背板试验时间宜为24h、48h。关闭箱门,运行。

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高压蒸煮老化试验箱技术参数:

规格

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质: 高级烤漆。

5.温度范围 : 105℃~132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围 : 100%RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围(表上压力) : 0.2Kg/cm2~2.0 Kg/cm2或(2.2 Kg/cm2)控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.

9.温度分布: ≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ~ 135℃约40分钟内. (控制点温度).

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.2Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

PCT封装胶膜高压蒸煮老化试验箱;封装胶膜老化试验箱

压力与温度对照表

压力

温度

压力

温度

0.5㎏/㎡

110℃

1.5㎏/㎡

127℃

1.0㎏/㎡

121℃

2.0㎏/㎡

132℃

二、机械结构:

1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.

2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.

3. 水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。

4. 专用型packing ,材质:耐高温夕胶发泡成型,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.

6. 增加空气洁净度技术.以确保箱内之纯净度.

7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.

8. 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.

9. 水箱采用16L大容量水箱,置于箱体底部,采用最新主动式自动补水系统,有效防止加热管干烧;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.




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