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芯片电阻电容蒸汽老化试验箱

简要描述:芯片电阻电容蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

  • 产品型号:DR-H306
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-06-26
  • 访  问  量:461

详细介绍

芯片电阻电容蒸汽老化试验箱简介:

      蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。老化箱整体由SUS #304 不锈钢制成,操作设定简易,微电脑数位LED控制,具有时间设定功能,多重超温保护、缺水切断电热等安全装置。

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芯片电阻电容蒸汽老化试验箱用途:

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

蒸汽老化试验箱控制系统:

微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT-100),解析度0.1℃,全自动安全保护装置。

蒸汽老化试验机技术规格参数:

内部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm;

外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm;

蒸屉尺寸:300×120×60(L*W*H mm)   三个

内外箱体材质:SUS304#优质不锈钢板;

保温层:岩棉

升温时间:大约40分钟;控制功能:PID+SSR,数字式显示;

温控器:采用CHB401智能温度控制器。成熟耐用。

温度范围:RT-98℃

控制精度:±0.5℃

温度均匀度:≤2℃

计时功能:1~9999分钟,附时到报警功能,时间到达后切断电源;

水位控制:自动补水,缺水断电功能以防干烧。

电热管:采用304不锈钢发热管.

电源:AC 220V±10% 50Hz  3.0KW

满足标准:

符合军规MTL-STP-208F,202






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