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邯郸显卡PCT老化试验箱

更新时间:2022-11-29

简要描述:

DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱。PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

型号:DR-H308点击量:266

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DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱产品简介:

PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

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DR-H308邯郸显卡PCT老化试验箱技术参数:

规格

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质: 高级烤漆。

5.温度范围 : 105℃~132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围 : 100%RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围(表上压力) : 0.2Kg/cm2~2.0 Kg/cm2或(2.2 Kg/cm2)控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.

9.温度分布: ≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ~ 135℃约40分钟内. (控制点温度).

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.2Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

显卡PCT老化试验箱

压力与温度对照表

压力

温度

压力

温度

0.5㎏/㎡

110℃

1.5㎏/㎡

127℃

1.0㎏/㎡

121℃

2.0㎏/㎡

132℃

二、机械结构:

1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.

2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.

3. 水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。

4. 专用型packing ,材质:耐高温夕胶发泡成型,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.

6. 增加空气洁净度技术.以确保箱内之纯净度.

7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.

8. 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.

9. 水箱采用16L大容量水箱,置于箱体底部,采用最新主动式自动补水系统,有效防止加热管干烧;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.








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