塑封材料在电子元器件保护中扮演着重要角色,其主要功能是隔绝外界环境对内部敏感结构的侵蚀。然而,塑封材料在储存或使用过程中可能因吸湿导致性能下降,甚至引发失效。本文围绕塑封材料吸湿失效的机理、影响因素及改善措施进行分析。
一、吸湿机理及失效形式
塑封材料通常为高分子聚合物,其分子结构具有一定的极性,容易吸附环境中的水分子。水分子通过扩散作用进入材料内部,并可能积聚于材料缺陷处或界面区域。吸湿后材料的失效形式主要包括以下几类:
1、材料膨胀:吸水后聚合物分子链间距增大,导致整体尺寸变化,产生内应力。
2、界面分层:水分在塑封料与芯片、引线框架等界面处聚集,降低粘接强度,导致分层现象。
3、金属腐蚀:侵入的水分与污染物结合形成电解液,加速内部金属部件的电化学腐蚀。
4、性能劣化:吸水可能导致材料介电常数变化、绝缘性能下降,影响器件电气特性。
二、影响吸湿的主要因素
1、材料性质:不同树脂体系(如环氧树脂、硅酮等)的吸湿率存在差异。极性较强的材料通常更易吸湿。
2、环境条件:高温高湿环境显著加速吸湿过程。例如在湿度较高的地区,塑封器件储存时需格外注意。
3、封装工艺:塑封过程中的固化程度、界面处理工艺等会影响材料致密性和界面结合力,从而影响吸湿速率和耐湿性。

4、结构设计:塑封体厚度、内部结构复杂度及界面形态等因素也会影响水汽扩散路径和聚集区域。
三、吸湿失效的分析方法
为准确判断吸湿是否导致失效,需通过以下方法进行综合分析:
1、重量法:通过测量样品在恒温恒湿环境下的重量变化,计算吸湿率和扩散系数。
2、热分析:采用热重分析(TGA)或差示扫描量热法(DSC)观察材料在加热过程中的水分挥发及玻璃化转变温度变化。
3、形貌观察:利用扫描电子显微镜(SEM)或超声扫描(C-SAM)检查界面分层、裂纹等缺陷。
4、电气测试:测量绝缘电阻、介质耐压等参数,评估吸湿对电气性能的影响。

四、改善吸湿可靠性的措施
1、材料选型:选择低吸湿率、高粘结强度的塑封材料,例如部分改性环氧树脂或复合体系。

2工艺控制:优化固化工艺,提高材料交联密度;加强界面清洁和处理,改善结合质量。
3、结构设计:避免尖锐棱角,减少应力集中区域;合理设计厚度和排气结构,降低水汽侵入概率。
4、存储与使用环境:严格控制仓储湿度条件,建议在干燥环境中存储和操作;对于敏感器件,可采用防潮包装并标注开封后的使用时限。
五、案例说明
某类型集成电路在客户端发现批量失效,经分析发现塑封体与引线框架界面存在明显分层。进一步实验表明,该批次器件在生产后仓储环境中湿度较高,且材料本身粘结性能不足,导致吸湿后界面强度显著下降。通过更换塑封料型号并改善存储条件,后续产品未再出现同类问题。
塑封材料吸湿失效是一个涉及材料、工艺、环境等多方面的复杂问题。通过合理选材、优化工艺及控制环境条件,可有效提高器件的耐湿性能和长期可靠性。