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一、控制系统:
1. 采用精密液晶显示可编程温度控制器;智能型数显PID微电脑温度控制仪表;
2. 触控式设定、数位及直接显示,湿度直接显示百分比;温度控制采用热平衡调温方式;
3. 精密液晶显示可编程温度控制器做程序试验,可以有多组多段编程操作,定值和程序任选,时间可任意设定,可预约启动及停止时间,且停电后可按预约设定冷热启动;
4. 方便的数据处理:可连接电脑(可选配232通讯接口和LAN通讯接口),具有USB数据转移接口(U盘),用电脑显示,并打印温湿度和时间曲线,为试验过程数据储存与回放提供有力保证。
二、冷冻及加热加湿系统:
1. 冷冻机组采用法国泰康压缩机,并使用美国杜邦环保制冷剂(R404a),便于不同温域采用不同压缩机作功。
2. 温湿度控制采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制,自动演算的功能,可将温湿度变化条件立即修正,使温湿度控制更为精确稳定。
3. 温湿度均采用高精密控制器,相对温湿度性能精确的设定显示,温度分辨率达到0.01℃,湿度0.1%.R.H.。
4. 镍铬合金高速加温电热丝加热,高温独立。
5. 不锈钢管内置镍铬合金高速加温电热丝和高温氧化镁粉加湿,反应快寿命长。
6. 加热、加湿系统独立,且湿度有自动补水装置。
电子元器件耐寒性恒湿恒温试验箱是专门用于测试电子元器件在特定湿度和温度条件下的性能和可靠性的设备。这些试验箱通常具有以下特点:
恒温恒湿控制:电子元器件试验箱可以实现精确的恒温恒湿控制,以模拟不同环境条件下的湿度和温度。常见的湿度范围为10% RH至98% RH,温度范围为-70°C至150°C。
精密的湿度和温度传感器:试验箱配备高精度的湿度和温度传感器,能够实时监测和记录测试过程中的湿度和温度变化。这些数据可以用于后续分析和评估。
可编程控制系统:试验箱通常具有可编程的控制系统,可以设定并自动调整湿度和温度参数。通过预先设置测试程序,可以实现自动化的测试流程,提高效率并减少人为错误。
安全保护措施:针对电子元器件的敏感性,试验箱通常配备过载保护、短路保护、过温保护等安全保护措施,以确保测试过程的安全性和可靠性。
数据记录与分析:试验箱通常具备数据记录和分析功能,可以记录和存储测试过程中的湿度、温度和其他相关参数数据。这些数据可以用于后续分析和生成测试报告,帮助评估电子元器件在不同湿度和温度条件下的性能。
通过使用电子元器件耐寒性恒湿恒温试验箱,可以对电子元器件在不同湿度和温度条件下的耐久性、可靠性和适应性进行全面评估。这有助于制造商优化产品设计、改善材料选择,并确保电子元器件在各种应用环境下的稳定性和可持续性。
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